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簡要描述:曲折壽命試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)價(jià)格主要用于能折撓之電路板(俗稱軟件電路板)作撓折測試;如手機(jī)、PDA、電子詞典、手提電腦等電子產(chǎn)品FPC軟板的耐撓折、耐曲折壽命檢測試驗(yàn)。
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曲折壽命試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)價(jià)格主要用于能折撓之電路板(俗稱軟件電路板)作撓折測試;如手機(jī)、PDA、電子詞典、手提電腦等電子產(chǎn)品FPC軟板的耐撓折、耐曲折壽命檢測試驗(yàn)。
曲折壽命試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)價(jià)格
一:用途/特點(diǎn):
本機(jī)主用于手機(jī)觸摸屏點(diǎn)擊、劃線壽命測試,PLC 控制 ,觸摸屏顯示,具備次數(shù)自動(dòng)記憶,掉電記憶,點(diǎn)擊力量壓力控制,壽命次數(shù)累計(jì),達(dá)到所設(shè)定次數(shù)自動(dòng)停機(jī)等功能。采用運(yùn)動(dòng)軌跡測試,方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能,只需于手機(jī)液晶顯示屏上任取兩點(diǎn)可劃線,任取三點(diǎn)可生成三角,四點(diǎn)可生成方形或矩形式等運(yùn)動(dòng)軌跡,并可根據(jù)測試手機(jī)規(guī)格存取運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用。而且采用步進(jìn)電機(jī)搭配直線導(dǎo)軌和滾珠絲桿作運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu),定位準(zhǔn)、準(zhǔn)確度高,噪音低;精久耐用等特點(diǎn).
二:技術(shù)參數(shù):
1:測試樣品:2個(gè)
2:移動(dòng)距離:X軸:90mm;Y軸:150mm
3:移動(dòng)速度:16~120 mm/秒
4:點(diǎn)擊速度:0-180次/分
5:計(jì)數(shù)器:6位計(jì)數(shù),具有掉電記憶功能
6:控制方式:PLC控制器及觸摸屏顯示
7:氣缸:SMC品牌,100~500gf力可調(diào)
8:標(biāo)配砝碼:50g 100g各兩個(gè)
9:電機(jī)扭距:1.3N.m
10:畫線軌跡:長方形、三角形、直線、對角線
11:機(jī)臺尺寸:W550×D550×H510
12:電源:220V/3A
13:機(jī)器重量:約35kg
14:外形尺寸:W550*D600*H450(mm)
1、 運(yùn)動(dòng)軌跡及測試:方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能,只需于手機(jī)液晶屏上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運(yùn)動(dòng)軌跡,任取二點(diǎn)可劃線,任取四點(diǎn)劃矩形,并可根據(jù)測試手機(jī)規(guī)格存儲運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用;
2、 由于運(yùn)動(dòng)控制器采用SAMSUNG之S3C44BOX單片機(jī)(ARM7)主頻64MHz處理芯片,處理和響應(yīng)速度更快;
3、 強(qiáng)大的存儲功能:內(nèi)含2M FLASH ROM用于程序存儲;內(nèi)含8MSDRAM及32M Nand FLASH ROM 用于數(shù)據(jù)存儲,多可存儲1000組以上(視運(yùn)動(dòng)軌跡數(shù)據(jù)量而定)測試數(shù)據(jù),方便調(diào)用;
4、可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前X,Y坐標(biāo)值,電機(jī)驅(qū)動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等;
5、RS-232套接字,支援USB1.1,可在線編程;
6、手寫筆劃線試驗(yàn):沿自定義的任意軌跡進(jìn)行測試,測試儀夾持手機(jī)自身的手寫筆進(jìn)行測試,手寫筆與測試臺面夾角可調(diào)節(jié)
(30°~90°),手寫筆與測試樣品的高度可調(diào)節(jié),頻率可調(diào)節(jié)(30~70次/min)。
7、手寫筆點(diǎn)擊試驗(yàn):測試儀夾持手機(jī)自身的手寫筆進(jìn)行測試,手寫筆與測試臺面夾角(30°~90°)可調(diào)節(jié),手寫筆與測試樣
品的高度可調(diào)節(jié),頻率可調(diào)節(jié)(30~100次/min)。
8、鉛筆硬度試驗(yàn):鉛筆與測試樣品成45°角。
9、手機(jī)各面滾壓測試:荷重:0~80N或(此功能需選配);
10、機(jī)臺采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽極氧化處理,富有質(zhì)感。
11、XY軸采用中國臺灣步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng),日本三星同步帶輪傳動(dòng),高速低噪聲,耐久使用;
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